MOSFET應(yīng)用中,哪些設(shè)計(jì)缺陷會導(dǎo)致頻繁失效?
MOSFET作為電子電路中的核心開關(guān)元件,在開關(guān)電源、電機(jī)驅(qū)動和功率放大等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。其應(yīng)用過程中的問題往往呈現(xiàn)連鎖反應(yīng),需從設(shè)計(jì)源頭到系統(tǒng)保護(hù)進(jìn)行全流程把控。解決 MOSFET 應(yīng)用中的7大核心問題,除了優(yōu)化設(shè)計(jì)方案,選擇具備先天性能優(yōu)勢的器件是更高效的路徑。合科泰 MOSFET 系列通過硬件級特性強(qiáng)化,從源頭降低失效概率,為工程師提供設(shè)計(jì)簡化和可靠性提升 的雙重保障。